台式扫描电子显微镜日本电子JCM-6000Plus。除了电子枪合轴,聚焦,消象散,衬度/亮度调节这些分别独 立的自动功能外,还具有全自动功能,只需轻触按钮就能开始成像过程,显示当前的图像.

        观察

        只需轻触一下就可以切换高真空 / 低真空模式能观察多种样品。

        高真空模式 二次电子像

        高真空模式下能通过二次电子像和背散射电子像进行观察。能观察二次电子像中精细的表面结构，在高倍率下观察也比较容易。

        高真空模式 背散射电子像

        由于采用了半导体背散射电子检测 器，因而能检测出成份像、形貌像和阴影像这三种信息，结合二次电子还可获得多种信息。

        低真空模式

        利用 JCM-6000Plus 标配的低真空模式，可提高样品室内的压力，中和样品表面的电荷，能直接观察不导电样品。

        观察含有少量油分或水分的样品以及释放气体、不易镀膜的样品也非常方便。

        图像观察与测量

        双帧显示

        能并列显示实时图像和保存的图像，在下面的实例中，右侧显示低倍率图像及光学显微镜图像，在左侧利用实时图像对放大的图像进行确认，这样就能对当前的图像和保存的图像一边比较一边观察。

        动态观察

        JCM-6000Plus 能拍摄视 频，因而可以进行动态观察。很适合观察样品随时间的推移而发生的变化。

        测长

        JCM-6000Plus 具有测量两点间距离的功能，选择 Scaler 按钮后，自动按钮会切换到测长按钮，测量结果能保存在图像和csv 数据文件中。

        元素分析

        EDS 按下装置的分析按钮，就能开启 EDS 视窗。EDS 能支持定性/定量分析、点分析和元素面分析（确认元素分布）。
        定性 / 定量分析
        用 Image（图像）+ SPC（采集）两个按钮开始分析。数据采集结束后按下定量按钮，就会显示定量结果。
        元素面分析（元素分布）
        按下 Map 按钮后，图像的元素面分析开始。元素面分布结果会显示组成元素的二维分布。
        援助复杂分析
        Analytical Assistance（分析援助）功能可使元素面分布和线分析更加容易。
        在 Analytical Assistance 视窗中选择感兴趣的分析后，所需作业步骤会按顺序显示出来。只需按照视窗中指示按钮的引导，任何复杂的分析都能够顺利地完成。
        点分析
        在图像上设定多个分析点后，系统会按顺序自动分析各点上的元素并显示谱图。
        分析结束后还能比较这些谱图数据。
        线分析
        在图像上测试的线上的元素含量的变化。
        测试结束后还能改变元素。
        探针追踪
        进行长时间分析时，能保持分析位置的稳定。