功能丰富的高性能 SEM

        Apreo 革 命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所 未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳 米颗粒、催化剂、粉末和纳 米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。

        Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供好的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏 感样品时也不例外。新型复合透镜通过能 量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的 大样品仓压力为 500 Pa，可以对要求严苛的绝缘体进行成像。

        通过这些优势（包括复合末级透镜、高 级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出 色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。

        FEI扫描电镜Apreo 材料科学应用

        新的 Apreo 扫描电子显微镜 (SEM) 可对纳 米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。

        ▪ 独 有的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
        ▪ 作用很大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏 感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
        ▪ 灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。