FEI扫描电镜Q25/Q45

FEI扫描电镜Q25

为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。

FEI扫描电镜Q45

为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。

Q45 材料科学应用

为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成

优点

▪ 在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。

▪ 样品制备工作少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析

▪ 增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。

▪ 利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。

▪ 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。

▪ 简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。

Q25 材料科学应用

用于表征宽范围的材料样品，Q25SEM简单易用为应对研究需求的多样性提供了灵活性和多功能。Q25提供了所有数据：表面和成像与元素分析结合起来可以用来确定材料性能如结构和元素组成。

优点

▪ 简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。

▪ 快速轻松表征导电和非导电样品样品

▪ 制备工作少化：低真空下可以对不导电无荷电成像和分析

▪ 支持可选的分析功能。利用独有的多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导电样品和不导电样品的精确EDS分析成为可能。

▪ 利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。