TESCAN扫描电镜CLARA是一款应用广泛的多功能扫描电子显微镜，是基于成功的S8000基础上进一步研发的，其设计更能满足材料科学的需求，适用于对各种不同类型材料的分析和表征。 

CLARA 的分辨率可以达到亚纳 米级别，能够揭示材料细微的结构。TESCAN的Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（至小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。

 

TESCAN扫描电镜CLARA 在低电压下仍保持了出 色的分辨率，因而不仅适用于样品表面进行形貌观察，同时也是表征光 敏样品和非导电样品的理想选择。TESCAN CLARA不仅在低电压下拥有高的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中 心或材料科学研究实验室的好选择。

 

新一代的电子光学和成像技术使CLARA成为任何分析测试中 心，材料表征实验室或工业检测实验室的设备。直观，模块化的用户界面可根据每个操作员的需求进行定制，可以有 效的提高工作效率。预设程序和高成像条件可以帮助新手用户轻松获得高质量的图像，并尽可能协助其完成能力范围内可操作的高 端功能。

主要特点

镜筒内BSE探测器设计可以根据能 量和角度不同选择信号

镜筒内BSE探测器所安装的特殊位置使得它可以同时采集不同 “出射”角度的背散射电子（BSE）。 Axial BSE 探测器收集近轴背散射电子信号，而 Multidetector（BSE）则收集中角背散射电子信号， 这两个信号是明显不同的。通过 Axial BSE探测器我们可以抑 制不希望看到的由于样品的表面形貌引起的干扰，从而观察到好的材料成分衬度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射电子，获得既有成分衬度又有形貌衬度的图像，但更凸显表面形貌的特点。Multidetector配有一个能 量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的能 量过滤，以便增强背散射电子的衬度。

电子束敏 感样品和非导电样品的理想选择

镜筒和探测器系统的一体设计，无需施加样品减速偏压，即可实现电子束50 eV 的低着陆能 量，避免了样品产生损伤和荷电效应，并实现出 色的成像性能，是观察各种不导电样品的理想选择。

电子束的快速设置–实现高的成像和分析条件

EquiPower™ 透镜技术可实现有效的散热并保证电子镜筒的稳定性。同时结合使用了实时电子束实时优化技术，使 TESCAN CLARA 能够在全部束流范围下获得优的高分辨率图像和（EDS / EBSD）分析能力。

无需光学导航相机，利用低倍率实时SEM图像实现直观、精 确的导航

Wide Field Optics™ 技术以及双物镜的设计，实现不失真的大视场观察并具有多种成像模式。 成像模式间的切换和高、低倍图像的切换仅需一次鼠标点击即可获得。

无漏磁高分辨透镜，低电压下实现材料表面形貌细节的高灵敏表征

BrightBeam™ 镜筒实现无漏磁高分辨率成像能力，对包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。