JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析,能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。
主要特点
1. 浸没式schott-plus场发射电子枪
电子枪与低像差聚光透镜结合实现了高亮度。即使低加速电压下也能获得充足的入射电流(100nA@5kv), 不需要切换物镜就能进行高分辨观察、高速元素面分析、EBSD分析、软X射线分析。
2. Neo Engine(New Electron Optical Engine)
配备本公司电子光学技术精华的新一代电子光学控制系统。即使条件变更时也可以进行稳定的观察。另外,自动功能等的易用性也大幅度提高了。
AFS ACB
样品:碳上的锡纳米颗粒
加速电压:15kV,WD:2mm,观察模式:BD,检测器:UED, 倍率:x200,000
3. SEM Center / EDS一体化
操作导航“SEM Center”与本公司生产的EDS进行了全方面集成,更易于操作。此外,还配备了帮助初学者进行电镜操作的小型导航系统(可选),以及便于实时图像观察的Live - AI (Live Image Visual Enhancer-AI)过滤器(可选)。
4. HL(Hybrid Lens)和 SHL(Super Hybrid Lens)
以电磁场重叠型物镜为基础设定了2种物镜,可以按客户的需求选择。这样磁性材料、绝缘材料等各种样品都能观察和分析。
5. 高位检测器UHD (Upper Hybrid Detector)
SHL物镜里标配高位检测器,大大地提高了样品产生的电子检测率,能够采集到高S/N的图像。
6. 新型背散射电子检测器
闪烁体背散射电子检测器(SBED、选配件)响应性能优越,适用于低加速电压下材料衬度像的采集。多用途背散射电子检测器(VBED、选配件)适用于3D、凹凸等特色图像的采集。
JSM-IT800 SHLversion |
JSM-IT800 HLversion |
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分辨率 (1 kV) |
0.7nm |
1.3nm |
分辨率 (15 kV) |
0.5nm |
- |
分辨率 (20 kV) |
- |
0.7nm |
加速电压 |
0.01 - 30 kV |
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检测器 |
二次电子检测器(SED) |
二次电子检测器(SED) |
高位混合检测器(UHD) |
高位电子检测器(UED) |
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电子枪 |
浸没式schott-plus场发射电子枪 |
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入射电流 |
数 pA - 500 nA (30 kV) |
数 pA - 300 nA (30 kV) |
数 pA - 100 nA (5 kV) |
数 pA - 100 nA (5 kV) |
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物镜 |
混合物镜SHL |
混合物镜HL |
样品台 |
全对中马达驱动样品台 |
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样品台行程 |
X: 70 mm, Y: 50 mm, Z: 2~41 mm,倾斜:-5~70o, 旋转:360o |
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EDS能谱仪 |
能量分辨率133eV以下, 检测元素B-U, 60mm2大面积检测器 |