JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
- 产品编号:
- 产品型号: JEM-ARM300F
- 所属类别: 高分辨型电子显微镜 - 透射电镜
- 所属品牌: 日本电子
- 所属用途: 聚合物分析
- 应用领域:
- 产品特性:
- JEM-ARM300F实现了扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主
JEM-ARM300F实现了扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界高的STEM-HAADF像分辨率。
实现了世界高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了58pm
采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,高分辨率靴、使用STEM球差校正器时）。
ETA校正器 JEOL自主研发的12球差校正器 ※选配件
ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
两种物镜靴
为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜靴。
丰富的选购件
能安装大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
大范围的加速电压设置
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围广。
新开发的真空系统
新的排气系统达到了高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
产品规格
