追求高速・高灵敏度・高精度的机型—EDX-7200
通过高分辨率SDD检测器的搭载以及高计数率的实现,获得更高的检测效率。
高速 — 计数量高达到30倍 —
搭载高速电路,计数量高达以往型号(EDX-720)的30倍。通过改良算法和升级基本性能,缩短了测定时间, 进一步提高了操作便捷性。
实际样品的比较
X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度(重现性)。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号(EDX-720)相比,能够在更短的时间内达到目标分 析精度。
高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —
提高了金属分析中微量元素的检测下限。