• 91 条电子束同时工作，拥有 的成像速度。
• 在几分钟内对1 mm²的区域成像，分辨率高达 4 nm。
• 借助经优化的二次电子探测器，以低信噪比采集高衬度图像。

• MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。
• 对整个样品成像并发现所有细节，助力于科研。
• 自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像，且不丢失可见信息。

• 使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM，该软件被应用于所有蔡司成像系统
• 智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像
• 根据样品的实际情况，快速轻松地创建复杂的自动采集流程
• MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
• 开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发

• MultiSEM 同时运用了多条电子束（绿色：照明通路）和多个探测器。微调探测通路能够收集大量的二次电子（SE）用于成像。与分光镜组合使用，可让二次电子信号到达（红色：探测通路）多探测器阵列。每条电子束在样品的一个位置执行同步扫描程序，以此获得单个拼片图像。电子束呈六边形排列。通过合并所有图像拼片生成整幅图像。

  
  并行计算机设置程序用于快速记录数据，确保整体高成像速度。图像采集和工作流程控制在 MultiSEM 显微镜中完全独立。

  

蔡司 MultiSEM 研究合作计划专为早期使用者设立。作为该计划的一部分，您将与蔡司密切开展合作以及使用这项新技术，并从中获益。