蔡司Xradia Ultra新型样品原位加载台
三维X射线显微镜进行纳米级力学性能原位测试的又一新选择
进一步了解在三维负载情况下纳米结构所发生的形变
蔡司Xradia Ultra新型样品原位加载台利用无损3D成像为您提供的纳米级的压缩，拉伸以及压痕等原位力学性能测试，可以在负载情况下，实现50纳米空间分辨率的研究样品内部结构三维演化过程。了解与局域纳米特征相关的形变和失效如何发生。为现有的力学测试方法提供补充，实现深入观察多个尺度范围的行为。
优势
- 将纳米级力学性能原位测试功能添加至您的Xradia Ultra 纳米级的3D X射线显微镜。
- 能够获取样品在负载情况下50纳米空间分辨率的3D图像
- 能够实现多种纳米级力学性能测试模式，包括压缩，拉伸以及压痕测试
- 能够对包括金属，陶瓷，复合材料，高分子材料以及生物材料在内的多种材料进行分析研究
- 能够补充电镜，微米CT以及一些独立的检测设备等力学测试手段，实现多尺度下理解材料的性能变化---从原子级和纳米级到微米和宏观尺度。
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提供两种模式，包括了不同大小的力值测量范围
- LS108: 至大力值0.8 N
- LS190: 至大力值9 N
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可与以下型号显微镜兼容：
- ZEISS Xradia 800 Ultra
- ZEISS Xradia 810 Ultra
- Xradia UltraXRM-L200
- Xradia nanoXCT-200
工作原理
用户可自行配制ZEISS Xradia Ultra 原位加载台，操作简便。其压电式机械致动器中配有闭环位置控制器，应变式力传感器以及一套上下对顶的铁砧确保各种模式能够正常运行。将样品安装在两个铁砧之间，使用传感器测量铁砧对样品的作用力，而这个作用力则是铁砧位移的函数。
模式
压缩
可在单轴压缩负载条件下观察材料的形变及破坏程度。通过研究弹性形变及塑性形变来判定所得效果的一致性以及与孔隙率，框架以及接口等的纳米结构化特性的关联性。
张力
可在单轴压缩负载条件下观察材料的形变及破坏程度。帮助我们更好地理解诸如弹性系数和拉伸冲击强度的临界参数以及它们与样品纳米结构化特性之间的关系。
压痕
可在压痕处观察研究单独形变以及破坏情况。帮助我们更好地理解裂纹形成及传播过程以及镀膜的分层结构。
重要应用
纳米级机械原位检测的应用相对广泛，主要包含工程材料和自然材料两大类
应用示例如下：
- 高强度和金
- 生物材料/ 生物机械学
- 镀膜
- 建筑材料
- 纤维 / 复合材料
- 泡沫体
可视化及分析软件
蔡司您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro
此解决方案可为X射线，FIB-SEM，SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。
基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程
OptiRecon
4步简单的操作实现4X物镜的快速成像
蔡司 OptiRecon 为 Versa X 射线显微（XRM）专门设计，对于诸如油气、采矿和冶金行业的许多典型样品，仅用四分之一的数据采集时间就可以取得相同的成像质量。同样地，在一般的数据采集时间内很难取得很好的成像质量，对于这种情况蔡司 OptiRecon 可以大大改善成像结果。
蔡司 OptiRecon 以专有、有效的重构特点，让您在大约3分钟内就能完成一组标准1024 x 1024 x 1024体素的数据重构，速度比传统的方法有了实质性的提升。通常，迭代重构需要熟练的操作者且具备一定专业知识，来对每组数据处理的参数进行微调。蔡司 OptiRecon 拥有基于工作流的用户界面、易调整的参数，在重构过程中不需要特定的专业知识。
对于新用户，通常10分钟内就可以完成一组标准数据的设置和重构工作。
蔡司 OpticRecon 可适用于那些优先考虑速度或者成像质量需求的情况，如数字岩心或矿物解离度分析等。蔡司 OpticRecon 在动态原位试验方面也开辟了新的机遇，它使得原位动态试验可以在以往无法达到的时间分辨率下进行。
