蔡司Sigma 360
- 产品编号:
- 产品型号: Sigma 360
- 所属类别: Zeiss扫描电镜
- 所属品牌: 蔡司
- 所属用途:
- 应用领域:
- 产品特性:
- 直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选
蔡司Sigma
拥有高品质成像和显微分析功能的FE-SEM
蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，助您轻松实现构建成像和分析程序，同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像，它采用低电压，能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它的EDS几何学设计可执行显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。
使用Sigma系列，畅游纳米分析世界。
Sigma 360
分析测试平台的理想之选，直观的图像采集
- 从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观成像工作流。
- 可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和对比度。
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可在条件下执行可变压力成像，获得的非导体成像结果。
技术
Gemini 1电子光学系统
- Gemini 1电子光学系统由三个元件组成：物镜、电子束推进器和Inlens探测器。其中，物镜的设计将静电场与磁场相结合，大大优化光学性能的同时，降低了样品受到的磁场影响。
- 如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。Inlens探测原理通过对二次电子（SE）和/或背散射电子（BSE）的探测来确保有效的信号检测，同时大幅缩短获取图像的时间。
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电子束推进器保证了小尺寸的电子束斑和高信噪比。
以灵活的探测获取清晰图像
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- Sigma配备了一系列不同的探测器，通过新探测技术对您的样品进行表征。
- 使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。
- 使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。
- 使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。
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采用不同的可选BSE探测器，如aBSD探测器，可以深入研究样品的成分和表面形貌。
NanoVP lite模式
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采用NanoVP lite模式进行分析和成像，在低电压条件下可获得更高的图像质量，更快速地获取更准确的分析数据。
- 在NanoVP lite模式下，裙边效应降低且电子束的气体路径长度（BGPL）减小。裙边减小会提高SE和BSE成像的信噪比。
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带有五象限的可伸缩式的环形aBSD可提供的材料成分衬度：在NanoVP lite工作过程中，该探测器配备了安装在极靴下方的束流套管，其可提供低电压下的高通量高衬度成分和表面形貌成像，适用于可变压力和高真空条件。
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