通常，要想充分了解您的样本，您需要结合多种显微镜成像技术或对比技术。假设您想要了解大脑部位相关的突触超微结构，或者评估材料样本中的夹杂物是否为金属物质，亦或是在分析您工艺的技术洁净度时测定颗粒物是否达到临界值。在这些案例及其它应用情况下，仅凭借显微镜检查一种方法并不能解决所有难题。

您可以使用光电关联显微成像技术（CLEM）解决部分难题，近年来蔡司显微镜在该领域取得了开拓性进展。光电联用技术将光学显微镜的灵活性和大视野的特点与电子显微镜的分析功能和纳米级分辨率相结合。现如今，使用ZEN Connect，您可以整合所有的成像技术（包括蔡司或者非蔡司的系统），攻克您所面对的技术难题。ZEN Connect可帮助您结合跨尺度和成像模式的多个样本视角。

首先，您只需操作一次,便可以在任何低放大倍率系统中获得大样本的概览图像，并移至共聚焦显微镜或电子显微镜下对齐。现在，您可使用ZEN Connect软件在概览图像上进行导航，所有后续图像将自动出现在背景中。或者您可以仅使用ZEN Connect对齐并叠加任意来源的图像。不同模态的数据会自动重新关联定位并叠加，然后以项目的形式存储，并带有直观的图像标签。ZEN Connect可始终在相关背景下显示您所需的数据 - 您可获得独特的洞察力，提高效率并节省时间。