JIB-PS500i可在一台仪器中提供快速样品制备、微观成像和实时成分(Live EDS)分析。满足半导体、新能源等好的材料领域精细结构和复杂工艺的表征需求。

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TEM-FIB 样品转移

通过选配的JEOL透射电镜样品杆夹具和加工样品托,TEM样品制备完毕后无需转移取出即可直接插入样品杆,简单。

不仅如此，JIB-PS500i的SEM Center操作软件更可以一体化控制牛津公司的OmniProbe 400型纳米操作手。

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