

日本电子发布高精度-高分辨率FIB-SEM系统:JIB-PS500i
日本电子株式会社(JEOL Ltd.,)总裁兼执行官Izumi Oi宣布推出FIB-SEM系统"JIB-PS500i”。 随着材料结构的精细化和工艺复杂性的提高,对形貌观察和元素分析等评价技术提……
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聚焦纳米观测 赋能科研创新——高分辨场发射扫描电子显微镜SEM5000X
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